X-ray檢測(cè)技術(shù)是一種非破壞性檢測(cè)方法，其原理是利用X射線的輻射特性，對(duì)被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和材料成分進(jìn)行檢測(cè)和分析。X射線是一種高能電磁輻射，其波長(zhǎng)短于紫外線，能夠穿透物質(zhì)，并在其內(nèi)部發(fā)生散射或吸收，產(chǎn)生圖像或能譜。

X-ray源 X-ray源通常使用的是X射線管。X射線管由陰極和陽極兩部分組成。在陰極上加上高壓電場(chǎng)，使得陰極產(chǎn)生大量的電子，并在強(qiáng)烈的電場(chǎng)作用下，產(chǎn)生大量的電子在陽極上撞擊，產(chǎn)生高能電磁輻射——X射線。x-ray租賃X射線的能量大小取決于加在X射線管上的電壓大小。

X-ray能譜 X射線在物質(zhì)中遇到不同原子核的數(shù)目不同，對(duì)應(yīng)的散射或吸收也不同。因此，X射線在物質(zhì)中的衰減受到物質(zhì)密度、厚度、成分等因素的影響，從而形成不同的能譜。在X-ray檢測(cè)中，根據(jù)被檢測(cè)物質(zhì)的成分和厚度，選擇合適的X射線能量，以獲得更好的檢測(cè)效果。

X-ray成像 X-ray成像是通過測(cè)量X射線在物體內(nèi)部被吸收或散射的能量分布情況，來反映被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷。X-ray成像有兩種主要技術(shù)：透射成像和散射成像。

透射成像，是將被檢測(cè)物體置于X射線源和X射線探測(cè)器之間，X射線從一個(gè)方向穿透待檢測(cè)物體，并在探測(cè)器上形成射線影像。透射成像主要適用于檢測(cè)物質(zhì)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和缺陷，如漏洞、裂紋、松散、異物等。

散射成像，是通過測(cè)量被檢測(cè)物體中散射X射線的方向、強(qiáng)度等參數(shù)，來反映被檢測(cè)物體中的成分和結(jié)構(gòu)。散射成像主要適用于檢測(cè)物質(zhì)的成分和析出相等問題。

X-ray檢測(cè)在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中應(yīng)用廣泛。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、高效、非破壞性、無需樣品準(zhǔn)備等，可對(duì)不同形狀、大小、材料的制品進(jìn)行快速、準(zhǔn)確的檢測(cè)。X-ray檢測(cè)技術(shù)在重要工業(yè)領(lǐng)域，如航空航天、兵器制造、核能、汽車、鐵路等領(lǐng)域中，發(fā)揮著不可替代的作用。